泰尔终端实验室成功举办NFC论坛Plugfest测试研讨会


来源:泰尔终端实验 2019/10/23 9:12:27

2019年10月15日至17日,中国信息通信研究院泰尔终端实验室在北京成功举办NFC论坛Plugfest测试研讨会。NFC论坛一致性委员会主席Henk Dannenberg和认证负责人Sten Wendel参加会议,会议邀请到了国内外众多来自NFC芯片厂商、测试仪表厂商及NFC设备厂商的技术专家。本次研讨会由Sten Wendel主持。

研讨会现场

牛牛娱乐棋牌365为期三天的研讨会主要围绕全新的认证版本CR12,读卡器、标签读写以及点对点通信展开测试。在研讨会测试现场,泰尔终端实验室同来自华为、小米、OPPO、NXP、ST、Comprion、NI、SONY、LG、Keysight等十几家厂商的30多位技术专家参与了设备的互操作性测试和数据共享,验证读卡器设备和卡模拟功能下的手机间的交互,验证支持数字协议1.0、1.1、2.0或2.1版本的设备之间的互操作性。会上,Comprion和NI等测试设备厂商还展示了支持最新认证版本CR12的NFC测试工具,并为到场的设备厂商依次执行射频与协议一致性测试,帮助厂商发现和解决问题。参会代表纷纷表示此次会议非常专业,在和专家交流过程中,解决很多实际问题,受益匪浅。

另外,依据NFC论坛最新的Type 5标签规范,众多标签厂商开始研发Type 5标签。泰尔终端实验室在会上提供了NFC互操作手机测试库,包含不同品牌的几十款NFC功能手机,并为众多NFC芯片和标签厂商进行了标签读写互操作测试。本次标签读写互操作测试帮助标签厂商验证了其产品在不同手机上的可识读能力,以帮助厂商改进产品。

本次测试研讨会帮助NFC设备厂商提前验证其产品对CR12新标准的符合性,提前发现和解决问题,以缩短后期的认证周期,同时帮助厂商验证自己的产品与其他产品的互操作性,从而提升产品的性能和品质。后续,泰尔终端实验室将继续为国内外的NFC设备厂商提供相关的检测认证服务,解决NFC产品一致性及互操作测试问题,实现不同产品之间的互联互通,提升NFC产品的品质,推动NFC产业的健康发展。

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